聯(lián)系人：王存帆
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X-RAY臺(tái)式測(cè)厚儀XDL / XDLM / XDALX-RAY臺(tái)式測(cè)厚儀XDL / XDLM / XDAL XDL / XDLM / XDAL 憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL® 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器
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X-RAY XDL210熒光測(cè)厚儀
X-RAY XDL210熒光測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測(cè)厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測(cè)量。
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菲希爾X-RAY熒光測(cè)厚儀各種材料分析儀器
菲希爾X-RAY熒光測(cè)厚儀各種材料分析儀器 X 射線熒光分析儀器，具有的精度與廣泛的適用性。FISCHER 產(chǎn)品包含了滿足不同領(lǐng)域測(cè)試需求的高性能儀器。
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進(jìn)口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210進(jìn)口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210 XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀，用于對(duì)保護(hù)和裝飾涂料，量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)厚度測(cè)量
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