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FISCHER膜厚儀適用于工程現(xiàn)場測(cè)量
點(diǎn)擊次數(shù)：1793 更新時(shí)間：2020-09-23 返回
FISCHER膜厚儀可以準(zhǔn)確地和方便地在2個(gè)液晶顯示器上顯示鍍層厚度的讀數(shù)，一塊大的位于前部面板，另一塊位于上部面板，它符合人類工程學(xué)設(shè)計(jì)的集成于儀器的恒壓測(cè)量探頭允許方便地單手操作，可以進(jìn)行測(cè)量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)。
除了精密的測(cè)量儀器二次元與三坐標(biāo)之外，在測(cè)量薄膜厚度時(shí)，我們還會(huì)經(jīng)常的使用一種儀器，就是Fischer膜厚儀。它又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，可分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀、電渦流鍍層測(cè)厚儀與熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀，主要測(cè)量方法是采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
磁性測(cè)厚法的膜厚儀是一種超小型測(cè)量儀，它能快速，無損傷，進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的噴涂，電鍍層厚度的測(cè)量，可廣泛用于制造業(yè)，金屬加工業(yè)，化工業(yè)，商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，適用于工程現(xiàn)場測(cè)量。
膜厚儀的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。膜厚儀是一部簡單、容易操作，且經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的測(cè)量儀器，可以測(cè)量大體積，不規(guī)則形狀的工件。能對(duì)測(cè)量距離修正，可以自動(dòng)測(cè)量復(fù)雜的形狀，開槽式的測(cè)量室設(shè)計(jì)，使大的線路板也可輕易的放在測(cè)量頭及測(cè)量臺(tái)之間的槽進(jìn)行測(cè)量。
