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菲希爾黃金鍍層測(cè)厚儀信息
點(diǎn)擊次數(shù)：29 更新時(shí)間：2025-04-27 打印本頁(yè)面 返回
菲希爾X射線GOLDSCOPE SD特點(diǎn)
緊湊耐用設(shè)計(jì)
采用臺(tái)式設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊且堅(jiān)固，適合長(zhǎng)期使用，符合EN 61010、DIN ISO 3497和ASTM B 568等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。X射線熒光技術(shù)優(yōu)化
硬件和軟件專為黃金及貴金屬分析優(yōu)化，采用X射線熒光（XRF）技術(shù)，無需樣品制備，實(shí)現(xiàn)無損、快速（典型測(cè)試時(shí)間5秒）且高精度分析。型號(hào)與探測(cè)器差異
SD 510/SD 515：配備硅PIN探測(cè)器，適合快速檢測(cè)，適用于當(dāng)鋪、黃金買賣和小型實(shí)驗(yàn)室。
SD 520/SD 550：配備硅漂移探測(cè)器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤其擅長(zhǎng)測(cè)量相近元素（如鉑族金屬），SD 550還支持多濾波器和準(zhǔn)直器切換，適應(yīng)復(fù)雜需求。
便捷操作設(shè)計(jì)
測(cè)量艙寬敞（最大樣品高度90mm），支持自下而上的測(cè)量方向，透明窗口便于觀察，集成視頻顯微鏡輔助精準(zhǔn)定位測(cè)量點(diǎn)。
操作簡(jiǎn)單：開艙放置樣品后，一鍵啟動(dòng)即可完成分析。
軟件支持
預(yù)裝FISCHER WinFTM®軟件，內(nèi)置貴金屬分析程序，支持?jǐn)?shù)據(jù)管理、報(bào)告生成及自定義測(cè)試任務(wù)，優(yōu)化工作流程
