FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 是一款高性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型 X 射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,專為無損分析場(chǎng)景設(shè)計(jì),尤其適用于珠寶、錢幣、貴金屬等領(lǐng)域的檢測(cè)需求。
核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)
多元素精準(zhǔn)分析:可覆蓋從氯(17 號(hào)元素)到鈾(92 號(hào)元素)的廣泛元素范圍,最多可同時(shí)測(cè)定 24 種元素,精準(zhǔn)解析貴金屬及其合金的成分構(gòu)成。
高效穩(wěn)定性能:延續(xù) FISCHERSCOPE X-RAY 系列的品質(zhì),具備初始高準(zhǔn)確性與長(zhǎng)期穩(wěn)定性,大幅降低儀器校準(zhǔn)所需的時(shí)間與人力成本。
創(chuàng)新分析方法:采用先進(jìn)的 Si-PIN 基本參數(shù)法,無需校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正,即可快速分析固態(tài)、液態(tài)樣品的成分,并精確測(cè)量鍍層厚度,簡(jiǎn)化操作流程。
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215產(chǎn)品應(yīng)用
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用,典型應(yīng)用場(chǎng)景包括:
貴金屬及合金分析
珠寶、牙科用合金成分檢測(cè)
黃金制品、K 金制品純度鑒定
鉑金、銀制品成分分析
銠制品成分及鍍層檢測(cè)
鍍層厚度測(cè)量
各類合金材料的單層及多鍍層厚度精確測(cè)量