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菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀測(cè)量精度受影響，這幾個(gè)原因跑不了
點(diǎn)擊次數(shù)：1029 更新時(shí)間：2022-07-12 打印本頁(yè)面 返回
菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀可無損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度。但在使用過程中某些因素可能會(huì)影響其測(cè)量精度。
下面簡(jiǎn)要介紹一下可能影響測(cè)厚儀測(cè)量精度的一些因素：
1、基體金屬磁化：磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
2、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)：菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
4、曲率：試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
5、表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
6、附著物質(zhì)：菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
